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Automated Test

NIDays 2016

In einer Welt, in der eine Technologie bereits von der nächsten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt erschöpft hat, müssen Mess- und Prüfsysteme bereits in der Entwicklungsphase und vor Erstellung der ersten Prototypen eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu optimieren. So sollen Systeme flexibel und skalierbar und dennoch hochpräzise und leistungsfähig sein, um auf Anforderungen der Kunden reagieren zu können. So ist der Einsatz einer modularen Hard- und Softwareplattform sowie einer offenen Architektur die beste Voraussetzung, um schneller, kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen. Diese Vortragsreihe zeigt, wie einfach sich Messsysteme den wechselnden Anforderungen anpassen lassen.

 

 
11:00 – 11:45 Over 125 Years of Railway Technology and a Modern Test System
Christoph Märki, Zühlke Engineering AG
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11:45 – 12:30 Easily Expand Your Functional Test with In-Circuit Test … Based on Only one Platform!
Luca Bischof, ad+t AG
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12:30 – 13:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung
13:30 – 14:30 Keynote: Are we Seeing the End of Switzerland as a Location for Industry?
14:30 – 14:45 Raumwechsel
14:45 – 15:30 Introduction to PXI: A Modular Instrumentation Platform
National Instruments
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15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung
16:00 – 16:45 Big Data Analysis for Manufacturing Test
Vidar Gronas, Virinco
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16:45 – 17:30 Built for Speed: How to Optimize SMUs for High-Throughput Testing
National Instruments
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17:30 – 18:30 Apéro/Besuch der Ausstellung

11:00 – 11:45
Over 125 Years of Railway Technology and a Modern Test System

Christoph Märki, Zühlke Engineering AG

To test the wiring and electrical functions of its rolling stock, RhB uses a robust automated test system. Designed and developed by Zühlke, the system increases the quality and speed of these tests, which are performed on various types of railcars. Based on TestStand, LabVIEW and PXI a system was created, which is used by RhB in several locations on a daily basis.

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11:45 – 12:30
Easily Expand Your Functional Test with In-Circuit Test … Based on Only one Platform!

National Instruments

Der ICT-Tester hat eine eigene Programmiersprache. Beim Realisieren von Kombitests (ICT+FKT+…) müssen daher oft verschiedene Sprachen berücksichtigt/beherrscht werden, was den Programmieraufwand erheblich erhöht. Mit dem von ad+t entwickelten easyGEN kann der In Circuit Test mit geringstem Aufwand voll umfänglich in eine TestStand Funktionstest Applikation integriert werden.

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14:45 – 15:30
Introduction to PXI: A Modular Instrumentation Platform

National Instruments

Learn about PXI, a proven modular instrumentation platform that can keep up with your growing test, measurement, and control needs.

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16:00 – 16:45
Big Data Analysis for Manufacturing Test

Vidar Gronas, Virinco

Big data is a term that describes any voluminous amount of data that has the potential to be mined for information. Data stored in test systems is often overlooked and typically used retroactive to analyze problems that occurred. The presentation will show what you can find in the data by organizing and analyzing it. Potential problems can be identified and dealt with before it is too late.

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16:45 – 17:30
Built for Speed: How to Optimize SMUs for High-Throughput Testing

National Instruments

High-precision DC measurements frequently need a long measurement cycle to ensure proper signal integrity. However, many of these measurements are often unnecessarily throttled because of software overhead, long settling times, or inefficient measurement engine use. At this session, discover how to optimize source measure units (SMUs) for test throughput while maintaining an acceptable level of precision.

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